전자기 간섭(EMI)은 부분 방전(PD) 실험실 테스트에 상당한 영향을 미칠 수 있습니다.
허위 신호 생성
EMI는 실제 부분 방전 신호를 모방하는 잘못된 신호를 유발할 수 있습니다. 이러한 잘못된 신호는 실제 PD 이벤트로 잘못 해석되어 부정확한 결과를 초래할 수 있습니다. 예를 들어, 근처에 고전력 전기 장비나 통신 장치가 있는 실험실 환경에서 방출되는 전자기파는 PD 감지 시스템에 결합될 수 있습니다. 그러면 감지 시스템이 이러한 외부 신호를 테스트 표본 내의 부분 방전 활동으로 등록하여 기술자가 PD 수준을 과대평가하게 될 수 있습니다.
실제 신호의 마스킹
반대로 강한 EMI는 실제 부분 방전 신호를 가릴 수도 있습니다. 간섭의 진폭이 충분히 높으면 상대적으로 약한 PD 신호를 압도할 수 있습니다. 이로 인해 탐지 장비가 실제 PD 이벤트를 포착하는 것이 어렵거나 불가능해집니다. 무선 송신기 근처에 위치한 실험실에서 변압기의 부분 방전을 테스트하는 경우 강력한 전파가 섬세한 PD 신호를 휩쓸어 변압기 상태를 정확하게 평가하는 것을 방해할 수 있습니다.
신호 왜곡
EMI는 부분 방전 신호의 모양을 왜곡할 수 있습니다. 파형, 진폭, 위상 등 PD 신호의 원래 특성은 부분 방전의 특성과 심각도를 분석하는 데 중요합니다. 그러나 전자기 간섭으로 인해 이러한 특성이 변경될 수 있습니다. 예를 들어 뚜렷한 파형을 가진 PD 신호는 EMI에 의해 왜곡될 수 있으므로 내부 공극, 표면 방전 또는 기타 요인으로 인한 부분 방전 메커니즘의 유형을 식별하기 어려울 수 있습니다. 이러한 왜곡은 궁극적으로 잘못된 진단과 비효과적인 예방 유지 관리 전략으로 이어질 수 있습니다.
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